TY  - GEN
AU  - Izhnin,Igor I.
AU  - Mynbaev,Karim D.
AU  - Świątek,Zbigniew
AU  - Morgiel,Jerzy
AU  - Korotaev,Alexander G.
AU  - Voytsekhovskiy,Alexander V.
AU  - Fitsych,Olena I.
AU  - Varavin,Vasilii S.
AU  - Dvoretsky,Sergei A.
AU  - Mikhailov,Nikolay N.
AU  - Yakushev,Maxim V.
AU  - Bonchyk,A.Yu
AU  - Savytskyy,Hrygory V.
TI  - Fluence dependence of nanosize defect layers in arsenic implanted HgCdTe epitaxial films studied with TEM/HRTEM
KW  - эпитаксиальные пленки
KW  - флюенс
KW  - имплантация ионами мышьяка
KW  - наноразмерные дефектные слои
KW  - метод молекулярно-лучевой эпитаксии
KW  - статьи в сборниках
N2  - We report on the results of comparative study of fluence dependence of defect layers in molecular-beam epitaxy-grown epitaxial film of p-Hg1-х CdхTe (х=0.22) implanted with arsenic ions with 190 keV energy and fluence 1012, 1013, and 1014 cm-2
UR  - http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000890957
ER  -