Пешев В. В. Влияние зарядового состояния радиационных дефектов на процессы их генерации и отжига в соединениях GaAs и InP / В. В. Пешев, А. П. Суржиков // Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП. Томск, 1999. С. 54-55