TY  - BOOK
AU  - Нан Яо
AU  - Чжун Лин Ван
AU  - Яминский И.В.
TI  - Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ
T2  - Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
SN  - 9785915222327
PY  - 2011///
CY  - Москва
PB  - Научный мир
KW  - Нанотехнологии
KW  - Справочники
KW  - nlr_sh
KW  - Электронная микроскопия
KW  - электронно-микроскопические методы исследования
KW  - сканирующая зондовая микроскопия
KW  - атомно-силовая микроскопия
KW  - сканирующая микроскопия оптическая
KW  - сканирующая туннельная микроскопия
KW  - сканирующая микроскопия тепловая
KW  - сканирующая микроскопия термоэлектрическая
KW  - атомно-зондовая томография
KW  - электронно-лучевая литография
KW  - сканирующая электронная микроскопия
KW  - электронные микроскопы растровые
KW  - электронная микроскопия просвечивающая
KW  - электронная нанокристаллография
KW  - электронная голография внеосевая
KW  - наноизмерения
KW  - наноразмерные материалы, микроанализ
N1  - Библиогр. в конце разд; Предм. указ.: с. 702-711
ER  -