Пороговые характеристики инфракрасных детекторов на основе GeSi/Si гетеропереходов / А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, Н. А. Кульчицкий и др. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и нанофотоники) : материалы XI международной научно-технической конференции (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2005, 8-10 сентября). Тонкие пленки в электронике : материалы XVII международного симпозиума (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана 2005, 8-10 сентября). Москва, 2005. С. 179-188