TY  - BOOK
AU  - Rosenauer,Andreas
TI  - Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures: an analysis of composition and strain state
T2  - Springer tracts in modern physics / ed. by H. Fukuyama [a. o.]
SN  - 3540004149
SN  - 0081-3869
PY  - 2003///
CY  - Berlin [a. o.]
PB  - Springer
KW  - полупроводниковые наноструктуры
KW  - электронная голография
KW  - электронная микроскопия
KW  - квантовые ямы
KW  - квантовые точки
KW  - деформированное состояние
KW  - электронная дифракция
N1  - Includes bibliographical references; Index: p. 235-238
ER  -