TY  - BOOK
AU  - Данильчук,Леонид Нестерович
AU  - Окунев,Алексей Олегович
AU  - Ткаль,Валерий Алексеевич
TI  - Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристалах на основе эффекта Бормана
SN  - 5898963030
PY  - 2006///
CY  - Великий 
Новгород
PB  - [б. и.]
KW  - Бормана эффект
KW  - рентгенотопографические изображения
KW  - дефекты кристаллов
KW  - дефекты монокристаллов
KW  - цифровая обработка изображений
KW  - поляризационно-оптические изображения
KW  - аппаратно-программное обеспечение
KW  - фильтрация изображений
KW  - вейвлет-анализ
KW  - макрополя деформаций
KW  - микродефекты кристаллов
KW  - монокристаллы полупроводников
KW  - дислокационные структуры
KW  - дефекты упаковки в монокристаллах
KW  - эпитаксиальные слои германия
KW  - эпитаксиальные слои кремния
KW  - эпитаксиальный рост кристаллов
KW  - производство интегральных микросхем
KW  - производство полупроводниковых приборов
N1  - Библиогр.: с. 464-493
ER  -