TY  - BOOK
AU  - Брандон,Дэвид
AU  - Каплан,У.
AU  - Баженов,Сергей Леонидович
AU  - Егорова,О.В.
TI  - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]
T2  - Мир материалов и технологий
SN  - 5948360180
PY  - 2004///
CY  - Москва
PB  - Техносфера
KW  - Материалы
KW  - Микроструктура
KW  - RuMoRKP
KW  - электронная микроскопия
KW  - сканирующие туннельные микроскопы
KW  - твердые тела
KW  - межатомные связи
KW  - кристаллические фазы
KW  - аморфные фазы
KW  - кристаллические решетки
KW  - дифракционный анализ
KW  - кристаллические структуры
KW  - Брэгга уравнение
KW  - Лауэ уравнение
KW  - рентгеновская дифракция
KW  - дифракция электронов
KW  - Кикучи диаграммы
KW  - оптическая микроскопия
KW  - оптические микроскопы
KW  - интерференционная микроскопия
KW  - электронные микроскопы растровые
KW  - электронная микроскопия просвечивающая
KW  - электронная микроскопия растровая
KW  - рентгеновский микроанализ
KW  - масс-спектрометрия ионная
KW  - Оже-электроны
KW  - рентгеновская фотоэлектронная микроскопия
KW  - изотропия
KW  - анизотропия
KW  - гомогенность
KW  - гетерогенность
KW  - химический анализ поверхности
KW  - электроны вторичные
KW  - электроны отраженные
KW  - точечные дефекты в кристаллах
KW  - дифрактограммы
KW  - количественные методы микроанализа
KW  - металлы
KW  - полупроводники
N1  - Библиогр. в конце гл; Предм. указ.: с. 376-377
ER  -