TY  - BOOK
AU  - Брандон,Дэвид
AU  - Каплан,У.
AU  - Баженов,Сергей Леонидович
TI  - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]
T2  - Мир материалов и технологий
SN  - 5948360180
PY  - 2006///
CY  - Москва
PB  - Техносфера
KW  - учебные пособия для вузов
KW  - наноматериалы
KW  - кристаллические структуры
KW  - кристаллические решетки
KW  - электронная микроскопия
KW  - микроскоп туннельный сканирующий
KW  - дислокации
KW  - нанозернистые структуры
KW  - Миллера индексы
KW  - дифракционный анализ
KW  - Лауэ уравнение
KW  - Брэгга уравнение
KW  - рассеяние излучения кристаллами
KW  - дифракция электронов
KW  - нанопокрытия многослойные
KW  - оптическая микроскопия
KW  - геометрическая оптика
KW  - микроскоп оптический
KW  - стали цветных металлов
KW  - сплавы цветных металлов
KW  - полупроводники
KW  - керамики
KW  - интерметаллы
KW  - композиционные материалы
KW  - оптическая анизотропия
KW  - интерференционная микроскопия
KW  - микроскопы растровые
KW  - микроскопы просвечивающие
KW  - линзы микроскопа
KW  - дифрактограммы решетки
KW  - дифракция динамическая
KW  - атомные решетки
KW  - электронная микроскопия растровая
KW  - электронные пучки
KW  - электроны отраженные
KW  - электроны вторичные
KW  - наночастицы, изображения
KW  - химический анализ поверхности
KW  - стереология
KW  - катодолюминесценция
KW  - фрактография
KW  - напыление покрытия
KW  - рентгеновский микроанализ
KW  - тонкие пленки
KW  - микроанализ
KW  - керамика поликристаллическая
KW  - микроструктуры
KW  - автоматизированный анализ
KW  - Оже-электроны
KW  - ионная масс-спектрометрия
KW  - конструкционная сталь 1040
N1  - Предм. указ.: с. 376-377
ER  -