TY  - BOOK
AU  - Альфорд,Терри Л.
AU  - Фельдман,Леонард К.
AU  - Майер,Джеймс В.
AU  - Образцов,А.Н.
TI  - Фундаментальные основы анализа нанопленок
T2  - Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники
SN  - 9785915222259
PY  - 2012///
CY  - Москва
PB  - Научный мир
KW  - Тонкие пленки
KW  - Структура
KW  - nlr_sh1
KW  - нанопленки
KW  - структурный анализ
KW  - наноповерхности
KW  - поверхности наноматериалов
KW  - наноматериалы
KW  - кристаллические решетки
KW  - атомные столкновения
KW  - обратное рассеяние
KW  - спектрометрия обратного рассеяния
KW  - взаимодействие излучения с веществом
KW  - взаимодействие частиц с веществом
KW  - ионная имплантация
KW  - электронные пучки
KW  - лазерное излучение
KW  - радиационно-стимулированные поверхности тонких пленок
KW  - лазерно-стимулированные поверхности тонких пленок
KW  - модификация тонких пленок
KW  - ионная бомбардировка
KW  - мас-спектроскопия ионов вторичных
KW  - каналирование ионов
KW  - примеси в кристаллической решетке
KW  - поверхностное взаимодействие в двухатомной модели
KW  - эпитаксиальный рост пленок
KW  - электрон-электронные взаимодействия
KW  - электронная микроскопия
KW  - плазмоны
KW  - тормозное излучение
KW  - дифракция рентгеновских лучей
KW  - тонкие пленки поликристаллические
KW  - дифракция электронов
KW  - поглощение фотонов в твердых телах
KW  - рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры
KW  - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
KW  - излучательные переходы
KW  - электронный микроанализ
KW  - безызлучательные переходы
KW  - Оже-электронная спектроскопия
KW  - ядерные методики анализа
KW  - сканирующая зондовая микроскопия
KW  - аналитические технологии нанопленок
N1  - Библиогр. в конце гл
ER  -