Метод измерения отражающих свойств поверхности космических рефлекторов и их программно-апаратная коррекция / А. С. Мироньчев, А. В. Клоков, С. Э. Шипилов, В. П. Якубов // Актуальные проблемы радиофизики : труды Международной молодежной научной школы, Томск, 9-12 октября 2014 г.. Томск, 2014. С. 25-28