Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : [учебное пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"] / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др ; под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с.: ил., цв. ил., табл. - ( Мир физики и техники ;II-15: )