Matrosova A. Y. Complete test patterns set for single stuck-at faults at the CLB poles of a combinational circuit / A. Yu. Matrosova, E. S. Loukovnikova // Доклады IV Сибирской научной школы-семинара с международным участием "Проблемы компьютерной безопасности и криптография" - SYBECRYPT'05 (Томск, ТГУ, 6-9 сентября 2005 г.). Томск, 2005. С. 161-166 (Вестник Томского государственного университета. Приложение ; № 14, Август 2005). (Серия "Математика. Кибернетика. Информатика"