TY  - BOOK
AU  - Андреева,Наталья Владимировна
AU  - Габдуллин,Павел Гарифович
AU  - Журкин,Алексей Михайлович
TI  - Экспериментальные методы исследования: методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : [учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров "Техническая физика"]
SN  - 9785742246473
PY  - 2015///
CY  - Санкт-Петербург
PB  - Издательство Санкт-Петербургского государственного политехнического университета
KW  - электронные учебные пособия для вузов
KW  - сканирующая туннельная микроскопия
KW  - туннелирование квантовое микроскопическое
KW  - физическая электроника
KW  - взаимодействие частиц с поверхностью твердого тела
KW  - эмиссия электронов
KW  - потенциальные барьеры
KW  - Зоммерфельда модель металла
KW  - туннельные контакты
KW  - сканирующие туннельные микроскопы
KW  - сканирующие зондовые микроскопы
KW  - полупроводники
KW  - модуляция туннельного тока
KW  - визуализация поверхностей
KW  - сканирующая зондовая микроскопия
KW  - плотность электронных состояний
KW  - сканирующая туннельная спектроскопия
KW  - металл-полупроводник, контакты
KW  - атомно-силовая микроскопия
KW  - кантилеверы
KW  - сканеры
KW  - системы обратной связи
KW  - система подвода зонда к образцу
KW  - обработка изображений
KW  - фильтрация изображений
KW  - анализ изображений
KW  - лабораторные работы
N1  - Библиогр.: с. 102-103
UR  - http://sun.tsu.ru/limit/2017/000563076/000563076.pdf
ER  -