TY  - BOOK
AU  - Богомолов,Евгений Николаевич
AU  - Бубенчиков,Михаил Алексеевич
AU  - Гафуров,Антон Олегович
AU  - Сырямкин,Владимир Иванович
ED  - Томский государственный университет.
TI  - Современные методы исследования материалов и нанотехнологий (лабораторный практикум): учебное пособие : [для студентов вузов по направлению 222900 - "Нанотехнологии и микросистемная техника"
T2  - Методы диагностики и сертификации материалов и нанотехнологий
SN  - 9785946214247
PY  - 2013///
CY  - Томск
PB  - Издательский Дом Томского государственного университета
KW  - учебные издания для вузов
KW  - практикумы
KW  - диагностика материалов
KW  - диагностика наноматериалов
KW  - современные методы исследования
KW  - современные средства исследования
KW  - оптико-телевизионные измерительные системы
KW  - программно-аппаратные комплексы
KW  - алгоритмы предварительной обработки изображения
KW  - алгоритмы фрактальные
KW  - алгоритмы неразрушающего контроля материалов
KW  - аттестация нанопорошков
KW  - диагностические системы
KW  - вейвлет-анализ
KW  - Фурье-анализ
KW  - "НейроИнформГео", нейроинформационная система
KW  - химические материалы, методы исследования
KW  - сканирующая зондовая микроскопия
KW  - программное обеспечение диагностики материалов
KW  - солнечные батареи
KW  - магнитные жидкости
KW  - светодиоды
KW  - органические материалы
KW  - внешний анализ материалов
KW  - акустический анализ материалов
KW  - неразрушающий контроль материалов
KW  - информационно-измерительные системы материалов структурно-перестраиваемые
KW  - квантово-химические расчеты, программное обеспечение лицензионное
KW  - интеллектуальная медицинская оптико-телевизионная диагностическая система
KW  - микротомографы рентгеновские
KW  - наночастицы, моделирование термофоретического движения
KW  - учебные издания
N1  - Авт. указ. на обороте тит. л; Библиогр.: с. 391-397 и в тексте
UR  - http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000466367
ER  -