Панин С. В. Анализ изображений в оптическом методе оценки деформации / С. В. Панин, П. С. Любутин, В. В. Титков ; отв. ред. А. А. Светлаков ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики прочности и материаловедения. - Новосибирск : Издательство Сибирского отделения Российской академии наук, 2017. - 285, [2] с.: ил., цв. ил., табл.