TY  - BOOK
AU  - Егорова О.В.
TI  - Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей: учебник для вузов
SN  - 978-5-8114-9771-3
PY  - 2022///
CY  - Санкт-Петербург
PB  - Лань
KW  - Классификация
KW  - оптическая схема
KW  - микрофотография
KW  - микроскоп
KW  - проходящий свет
KW  - отраженный свет
KW  - цифровая камера
KW  - дифференциально-интерференционный контраст
KW  - призма
N1  - Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань; Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки
N2  - За последнее время произошли изменения не только в номенклатуре световых микроскопов, но появились и новые направления и виды приборов для технических целей. По-прежнему остаются важными вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем, а также с их тестированием с помощью микроскопических методов исследования. В книге рассмотрены вопросы применения и классификации технических микроскопов, в том числе внимание уделено приборам для микроэлектроники. Представлена методика подбора оптики микроскопов и выбор методов контрастирования для решения задач исследования в различных направлениях. Рассмотрены вопросы стандартизации, методы контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Предложены приёмы настройки основных групп микроскопов. Книга предназначена для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата «Материаловедение и технологии материалов», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Биология», специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, разработчиков оптических систем, сервисных инженеров, менеджеров и маркетологов
UR  - https://e.lanbook.com/book/198476
UR  - https://e.lanbook.com/img/cover/book/198476.jpg
ER  -