В. К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / Батоврин В. К.,Бессонов А. С.,Мошкин В. В.,Папуловский В. Ф.. - 2-е изд., перераб. и доп.. - Москва : ДМК Пресс, 2009. - 232 с.. URL: http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_cid=25&pl1_id=1096. URL: https://e.lanbook.com/img/cover/book/1096.jpg