Normal view
MARC view
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
Material type:
TextSeries: Физика полупроводников и полупроводниковых приборовPublication details: М. Наука 1981Description: 368 с. ил. 20 смSubject(s): Полупроводники - Дефекты
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 месяц | Книгохранилище | 1-428329 (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000212067 |
There are no comments on this title.