Normal view
MARC view
Локальные уровни собственных дефектов в GaP и ZnGeP2 В. Г. Воеводин, С. Н. Гриняев
Material type: ArticleSubject(s): физика полупроводников | полупроводники | полупроводниковые приборы | сложные полупроводниковые системы | алмазоподобные полупроводники | фосфид галлия | собственные дефекты | дифосфид цинка-германия | экспериментальные исследования | полупроводниковые материалы | труды ученых ТГУ In: Восьмая российская конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V". GaAs-2002, 1-4 октября 2002 г. : материалы конференции С. 370-372No physical items for this record
Библиогр.: 3 назв.
There are no comments on this title.