Normal view
MARC view
Структурно-примесные и электрофизические свойства системы Si-SiO2
Material type: TextPublication details: М. Радио и связь 1993Description: 192 с. илSubject(s): кремний | дефекты | микросхемы | электрофизика | окисление | Si-SiO2Other classification: 29.19.31Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-810839к (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000041109 |
Browsing Научная библиотека ТГУ shelves, Shelving location: Книгохранилище Close shelf browser (Hides shelf browser)
Библиогр. в конце глав.
There are no comments on this title.