Normal view
MARC view
Применение ГВЧ имиджинга для дефектоскопии элементов микроэлектроники с высоким разрешением С. Н. Жакупов, А. В. Бадьин
Material type: ArticleSubject(s): интегральные микросхемы | дефектоскопия | неразрушающий контрольGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Актуальные проблемы радиофизики АПР 2019 : 8-я Международная научно-практическая конференция, 1-4 октября 2019 года, г. Томск : сборник трудов конференции С. 193-195No physical items for this record
Библиогр.: 3 назв.
There are no comments on this title.