Normal view
MARC view
Исследование эпитаксиальных гетерослоев GeSi/Si методом рентгеновской дифрактометрии К. В. Карева, В. В. Дирко, В. А. Заяханов
Material type:
ArticleOther title: The study of GeSi / Si epitaxial heterolayers by X-ray diffractometry [Parallel title]Subject(s): гетероэпитаксиальные пленки | рентгеновская дифрактометрия | наногетероструктуры оптоэлектроникиGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online
In:
Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г С. 205-206
No physical items for this record
Библиогр.: 4 назв.
There are no comments on this title.