Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов К. А. Попков
Material type:
ArticleOther title: Synthesis of easily testable logic networks under arbitrary stuck-at faults at inputs and outputs of gates [Parallel title]Subject(s): проверяющие тесты | диагностические тесты | схема из функциональных элементов | произвольная константная неисправностьGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online
In:
Прикладная дискретная математика № 43. С. 78-100Abstract: Доказаны следующие утверждения: для любого натурального k существует базис из булевых функций от не более чем 2k + 2 переменных (от не более чем 4k + 2 переменных), в котором любую булеву функцию, кроме константы 1 , можно реализовать схемой из функциональных элементов, неизбыточной и допускающей проверяющий тест длины не более 3 (соответственно, диагностический тест длины не более 4) относительно не более k произвольных константных неисправностей на входах и выходах элементов. Показано, что при рассмотрении только произвольных константных неисправностей на входах элементов указанные оценки длин тестов можно понизить до 2.
Библиогр.: 13 назв.
Доказаны следующие утверждения: для любого натурального k существует базис из булевых функций от не более чем 2k + 2 переменных (от не более чем 4k + 2 переменных), в котором любую булеву функцию, кроме константы 1 , можно реализовать схемой из функциональных элементов, неизбыточной и допускающей проверяющий тест длины не более 3 (соответственно, диагностический тест длины не более 4) относительно не более k произвольных константных неисправностей на входах и выходах элементов. Показано, что при рассмотрении только произвольных константных неисправностей на входах элементов указанные оценки длин тестов можно понизить до 2.
There are no comments on this title.