Normal view
MARC view
Подход к проблеме функционального тестирования управляющего оборудования RISC-микропроцессоров О. Ю. Кузнецов, С. Г. Шаршунов
Material type: ArticleSubject(s): новые информационные технологии | компьютерная безопасность | диагностика ошибок | функциональное тестирование | RISC-микропроцессоры In: Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г. С. 284-287No physical items for this record
Библиогр.: 7 назв.
There are no comments on this title.