Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман ; [отв. ред. О. А. Кайбышев] ; Акад. наук СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов

By: Валиев, Руслан ЗуфаровичContributor(s): Вергазов, Анатолий Николаевич | Герцман, Валерий Юрьевич | Кайбышев, Оскар Акрамович [edt]Material type: TextTextLanguage: Russian Publication details: Москва Наука 1991Description: 230, [1] с. ил. 22 смISBN: 5020001953Subject(s): кристаллография | электронная микроскопия | границы зерен межкристаллитные | кристаллогеометрия | границы раздела | кристаллогеометрический анализ | электронные микроскопы просвечивающие | метод одиночных рефлексов | статистические исследования | кикучи-линииOther classification: 29.19 | 16.4.11
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.)

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share