Normal view
MARC view
Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом АСМ Ю. Н. Назарчук, В. А. Новиков
Material type: ArticleSubject(s): труды ученых ТГУ | полупроводниковые структуры | атомно-силовая микроскопия | сканирующая зондовая микроскопия | Шоттки барьер | диодные структуры In: Физика : материалы XLVIII международной научной студенческой конференции "Студент и научно-технический прогресс", 10-14 апреля 2010 г С. 201No physical items for this record
There are no comments on this title.