Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Метрологическое обеспечение измерений параметров и свойств наноматериалов рабочая программа дисциплины : направление подготовки 020100 - Химия : профиль подготовки - Химия твердого тела и химия материалов : квалификация (степень) выпускника - Бакалавр : форма обучения - Очная [Гавриленко Н. А., Изаак Т. И.] ; Томский гос. ун-т, Химический фак.

By: Гавриленко, Наталия АйратовнаContributor(s): Изаак, Татьяна Ивановна | Томский государственный университет Химический факультетMaterial type: TextTextPublication details: Томск [б. и.] 2011Description: 14 сOther title: Рабочая программа дисциплины "Метрологическое обеспечение измерений параметров и свойств наноматериалов" [Other title]Subject(s): метрологическое обеспечение измерений | наноматериалы | параметры наноматериалов | свойства наноматериаловGenre/Form: рабочие программы Other classification: *** ЗАПИСЬ ДЛЯ ДОРАБОТКИ ***
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Авт. указаны на с. 14

Библиогр.: с. 12-13

Ограниченный доступ

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share