Normal view
MARC view
Investigation of GeSi quantum dot structures using the methods of admittance spectroscopy V. G. Satdarov, A. V. Voitsekhovskii, A. P. Kokhanenko, K. A. Lozovoy
Material type: ArticleSubject(s): германий | кремний | квантовые точки | молекулярно-лучевая эпитаксия | спектроскопия | солнечные батареиGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: International Journal of Nanotechnology Vol. 12, № 3/4. P. 285-296No physical items for this record
Библиогр.: 17 назв.
Ограниченный доступ
There are no comments on this title.