Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова

By: Вавилов, Виктор СергеевичContributor(s): Кив, Арик Ефимович [авт.] | Ниязова, Озод Рахимовна [авт.]Material type: TextTextLanguage: Russian Series: Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиППPublication details: М. Наука 1981Description: 368 с. ил. 20 смISBN: В пер. (В пер.)Subject(s): Полупроводники - ДефектыOther classification: 17.4.6
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Item type Current library Call number Status Date due Barcode
Выдается в читальный зал Книгохранилище 1-441641к (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000765694

Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв.)

There are no comments on this title.

to post a comment.