Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках Отв. ред. А. А. Маненков

Contributor(s): Маненков, А. А [редактор]Material type: TextTextSeries: Publication details: М. Наука 1986Description: 152,[1] с. ил. 24 смSubject(s): Полупроводники - Дефекты - Исследование | Диэлектрики - Дефекты - ИсследованиеOther classification: 29.19
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.