Normal view
MARC view
Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu В. Л. Матухин, И. Х. Хабибуллин, Д. А. Шульгин, С. В. Шмидт
Material type: ArticleContent type: Текст Media type: электронный Subject(s): ядерный квадрупольный резонанс | полупроводниковые оксиды | электрические поля градиентные | термоэлектрические материалы | полупроводникиGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 2. С. 53-56Abstract: Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время большое внимание в качестве перспективных термоэлектрических материалов.No physical items for this record
Библиогр.: 12 назв.
Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время большое внимание в качестве перспективных термоэлектрических материалов.
There are no comments on this title.