Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu В. Л. Матухин, И. Х. Хабибуллин, Д. А. Шульгин, С. В. Шмидт

Contributor(s): Матухин, Вадим Леонидович | Хабибуллин, Илдар Хайдарович | Шульгин, Дмитрий Анатольевич | Шмидт, Станислав ВладимировичMaterial type: ArticleArticleContent type: Текст Media type: электронный Subject(s): ядерный квадрупольный резонанс | полупроводниковые оксиды | электрические поля градиентные | термоэлектрические материалы | полупроводникиGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 2. С. 53-56Abstract: Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время большое внимание в качестве перспективных термоэлектрических материалов.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 12 назв.

Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время большое внимание в качестве перспективных термоэлектрических материалов.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share