Normal view
MARC view
Расчет критической толщины перехода от двумерного к трехмерному росту в материальной системе GexSi1-x/Si(100) А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко, К. А. Лозовой
Material type: ArticleSubject(s): квантовые точки | кремний | германий | наногетероструктуры | молекулярно-лучевая эпитаксияGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 58, № 8/3. С. 227-230No physical items for this record
Библиогр.: 19 назв.
There are no comments on this title.