Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Quantitative super-resolution solid immersion microscopy via refractive index profile reconstruction (Record no. 923594)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03384nab a2200409 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле koha000923594
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230320003259.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr |
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 221109|2021 xxu s a eng d
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1364/OPTICA.439286
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер koha000923594
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
245 10 - Заглавие
Заглавие Quantitative super-resolution solid immersion microscopy via refractive index profile reconstruction
Ответственность N. V. Chernomyrdin, M. Skorobogatiy, A. A. Gavdush [et al.]
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого Текст
337 ## - Средство доступа
Средство доступа электронный
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 54 назв.
520 3# - Аннотация
Аннотация Solid Immersion (SI) microscopy is a modern imaging modality that overcomes the Abbe diffraction limit and offers novel applications in various branches of visible, infrared, terahertz, and millimeter-wave optics. Despite the widespread use, SI microscopy usually results in qualitative imaging. Indeed, it presents only the raw distributions (in the image plane) of the backscattered field intensity, while unlocking the information about the physical properties of an imaged object, such as its complex refractive index (RI) distribution, requires resolving the inverse problem and remains a daunting task. In this paper, a method for resolving the SI microscopy inverse problem is developed, capable of reconstructing the RI distribution at the object imaging plane with subwavelength spatial resolution, while performing only intensity measurements. The sample RI is retrieved via minimization of the error function that characterizes discrepancy between the experimental data and the predictions of analytical model. This model incorporates all the key features of the electromagnetic-wave interaction with the SI lens and an imaged object, including contributions of the evanescent and ordinary-reflected waves, as well as effects of light polarization and wide beam aperture. The model is verified numerically, using the finite-element frequency-domain method, and experimentally, using the in-house reflection-mode continuous-wave terahertz SI microscope. Spatial distributions of the terahertz RIs of different low-absorbing optical materials and highly absorbing biological objects were studied and compared to a priori known data to demonstrate the potential of the novel SI microscopy modality. Given the linear nature of the Maxwell’s equations, the developed method can be applied for subwavelength-resolution SI microscopy at other spectral ranges.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова иммерсионная микроскопия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова показатели преломления
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова профиль показателя преломления
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма статьи в журналах
9 (RLIN) 879358
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Chernomyrdin, Nikita V.
9 (RLIN) 488067
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Skorobogatiy, Maksim
9 (RLIN) 801803
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Gavdush, Arsenii A.
9 (RLIN) 563598
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Musina, Guzel R.
9 (RLIN) 563596
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Katyba, Gleb M.
9 (RLIN) 488064
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Komandin, Gennady A.
9 (RLIN) 497049
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Khorokhorov, A. M.
9 (RLIN) 852063
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Spektor, Igor E.
9 (RLIN) 817389
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Tuchin, Valery V.
9 (RLIN) 78712
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Zaytsev, Kirill I.
9 (RLIN) 486525
773 0# - Источник информации
Название источника Optica
Место и дата издания 2021
Прочая информация Vol. 8, № 11. P. 1471-1480
ISSN 2334-2536
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
856 4# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000923594">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000923594</a>
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 923594

No items available.