Normal view
MARC view
X-ray microbeam characterisation of crystalline defects in small pixel GaAs:Cr detectors (Record no. 892894)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02412nab a2200421 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | koha000892894 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20230414152010.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr | |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 220418|2021 ne s a eng d |
024 7# - Прочие стандартные номера | |
Стандартный номер | 10.1016/j.nima.2021.165207 |
Источник номера | doi |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | koha000892894 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | X-ray microbeam characterisation of crystalline defects in small pixel GaAs:Cr detectors |
Ответственность | R. M. Wheater, L. Jowitt, S. Richards [et al.] |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | Текст |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | электронный |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: 13 назв. |
520 3# - Аннотация | |
Аннотация | A newly supplied 80 × 80 chromium compensated GaAs sensor with a matrix of 80 × 80 pixels on a 250 m pixel pitch has been characterised utilising microbeam mapping techniques at the Diamond Light Source. The GaAs:Cr sensor was mounted to a HEXITEC DAQ system before raster scanning an X-ray beam with area 25 × 25 m in steps of 25 m, providing sub-pixel resolution spectroscopic imaging. Scans were performed with incident X-ray energies ranging from 12 to 45 keV. Following processing of the data in MatLab 2019b an analysis of defects previously observed in etched GaAs wafers occurred. Findings indicate the presence of regions with reduced charge collection efficiency where up to 88% of incident events show significant charge loss, and changing charge carrier lifetimes across the sensor. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | арсенид-галлиевые детекторы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | методы визуализации |
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма | |
Жанр/форма | статьи в журналах |
9 (RLIN) | 879358 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Wheater, R. M. |
9 (RLIN) | 802694 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Jowitt, L. |
9 (RLIN) | 802696 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Zarubin, Andrei N. |
9 (RLIN) | 816222 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Richards, S. |
9 (RLIN) | 802697 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Veale, Matthew C. |
9 (RLIN) | 135285 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Wilson, Matthew D. |
9 (RLIN) | 135283 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Fox, O. J. L. |
9 (RLIN) | 802698 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Sawhney, K. J. S. |
9 (RLIN) | 802699 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Lozinskaya, Anastassiya D. |
9 (RLIN) | 816210 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Shemeryankina, A. |
9 (RLIN) | 478649 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Tolbanov, Oleg P. |
9 (RLIN) | 95834 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Tyazhev, Anton V. |
9 (RLIN) | 95833 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Nuclear instruments and methods in physics research. Section A : Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
Место и дата издания | 2021 |
Прочая информация | Vol. 999. P. 165207 (1-7) |
ISSN | 0168-9002 |
Контрольный № источника | to000480608 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
856 4# - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000892894">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000892894</a> |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 892894 |
No items available.