Normal view
MARC view
Surface science (Record no. 556755)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02105nam a2200517 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000246747 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20221021110138.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 120827s2003 gw a f b 001 0 eng d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 3540005455 |
022 ## - Индекс ISSN | |
ISSN | 1439-2674 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000246747 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | eng |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 538.9 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Surface science |
Продолж. заглавия | an introduction |
Ответственность | K. Oura, V. G. Lifshits, A. A. Saranin [a. o.] |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Berlin [a. o.] |
Издательство | Springer |
Дата издания | 2003 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | xii, 440 p. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ill. |
490 10 - Серия | |
Заглавие серии | Advanced texts in physics |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Bibliogr.: p. 417-431. - Index: p. 433-440 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхностные явления |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | двумерная кристаллография |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | дифракционные методы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | кристаллические плоскости |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | структура поверхности |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | вакуумная техника |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фотоэлектронная дифракция |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фотоэлектронная спектроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | спектроскопия рассеяния |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновская дифракция |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхностный анализ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронная микроскопия. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхностная диффузия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рост тонких пленок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноструктуры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанокристаллы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | самоорганизация наноструктур |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фуллерены |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | углеродные нанотрубки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика поверхности |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Oura, K. |
9 (RLIN) | 556403 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Lifshits, V. G. |
9 (RLIN) | 556404 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Saranin, Alexander A. |
9 (RLIN) | 237730 |
830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | Advanced texts in physics |
9 (RLIN) | 300082 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 538.9 |
Авторский знак | S94 |
Код страны | ru |
942 ## - Дополнительные данные (Коха) | |
Код системы классификации для розстановки фонда | |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 556755 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 06/04/2021 | 4159.48 | 2-057398 | 13820000638701 | Выдается в читальный зал |