Normal view
MARC view
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля (Record no. 499344)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 03956nam a2200805 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000225891 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20230215101644.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 120827s2006 ru a b 001 0 rus |
| 017 ## - Номер регистрации авторского права или обязательного экземпляра | |
| Номер государственной регистрации | 06-35845 |
| Организация, присвоившая номер | RuMoRKP |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 5948360180 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000225891 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RuMoRKP |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-RKP |
| Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
| 041 1# - Код языка издания | |
| Код языка текста | rus |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 620.186(075.8) |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.385.833(075.8) |
| 084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
| Индекс другой классификации/Индекс ББК | 30.3я73 |
| Источник индекса | rubbkm |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Брандон, Дэвид |
| 9 (RLIN) | 515421 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля |
| Продолж. заглавия | [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"] |
| Ответственность | Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Техносфера |
| Дата издания | 2004 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 377 с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| Размеры | 24 см. |
| 490 10 - Серия | |
| Заглавие серии | Мир материалов и технологий |
| № тома | VI-02 |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр. в конце гл. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Предм. указ.: с. 376-377 |
| 650 #7 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Материалы |
| Основная подрубрика | Микроструктура |
| Источник рубрики | RuMoRKP |
| 9 (RLIN) | 526432 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | сканирующие туннельные микроскопы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | твердые тела |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | межатомные связи |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кристаллические фазы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | аморфные фазы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кристаллические решетки |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дифракционный анализ |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кристаллические структуры |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Брэгга уравнение |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Лауэ уравнение |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновская дифракция |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дифракция электронов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Кикучи диаграммы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптическая микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптические микроскопы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | интерференционная микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронные микроскопы растровые |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная микроскопия просвечивающая |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная микроскопия растровая |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновский микроанализ |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | масс-спектрометрия ионная |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Оже-электроны |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновская фотоэлектронная микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | изотропия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | анизотропия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | гомогенность |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | гетерогенность |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | химический анализ поверхности |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электроны вторичные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электроны отраженные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | точечные дефекты в кристаллах |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дифрактограммы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | количественные методы микроанализа |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | металлы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводники |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Каплан, У. |
| 9 (RLIN) | 515422 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Баженов, Сергей Леонидович |
| Код отношения | trl |
| 9 (RLIN) | 82178 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Егорова, О. В. |
| Код отношения | trl |
| 9 (RLIN) | 526004 |
| 830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
| Унифицированное заглавие | Мир материалов и технологий |
| 9 (RLIN) | 76264 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 62 |
| Авторский знак | Б874 |
| Код страны | ru |
| 908 ## - Параметр входа данных | |
| Параметр входа данных | учебник |
| 920 ## - | |
| -- | 5-94836-018-0 |
| -- | в пер. |
| -- | 2000 экз. |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 499344 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 228.14 | 1-946429к | 13820000547815 | Выдается в читальный зал |