Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Fermi level pinning and hydrostatic pressure effect in electron irradiated GaSb (Record no. 479090)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02110nab a2200349 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000794659
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230319222147.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr |
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 210303|2020 enk s a eng d
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1088/1361-6641/ab92cf
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000794659
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
100 1# - Автор
Автор Brudnyi, Valentin N.
9 (RLIN) 104916
245 10 - Заглавие
Заглавие Fermi level pinning and hydrostatic pressure effect in electron irradiated GaSb
Ответственность V. N. Brudnyi, I. V. Kamenskaya, P. A. Brudnyi
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого Текст
337 ## - Средство доступа
Средство доступа электронный
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 30 назв.
520 3# - Аннотация
Аннотация The effect of 2 MeV electron bombardment up to total electron dose of 1×1019cm−2 on the<br/>electrical and piezo resistive properties of n- and p-type GaSb crystals was studied. The electron<br/> irradiation leads to saturation of the hole concentration at about 5×1018cm−3 as a result of<br/> Fermi level pinning near the valence band top in all irradiated samples. With this in mind, the<br/> calculated data on the energy position of the charge neutrality level in GaSb were analyzed. The<br/> pressure coefficient of resistivity αρ = ∂(lnρ)/∂P was measured as a function of Fermi level<br/> position in the electron irradiated samples. Isochronal annealing of radiation-induced defects<br/> was investigated in the temperature range of 20–400 ◦C.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова уровень зарядовой нейтральности
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные эффекты
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пьезосопротивление
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова антимонид галлия
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма статьи в журналах
9 (RLIN) 879358
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Kamenskaya, I. V.
9 (RLIN) 509952
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Brudnyi, P. A.
9 (RLIN) 487195
773 0# - Источник информации
Название источника Semiconductor science and technology
Место и дата издания 2020
Прочая информация Vol. 35, № 8. P. 085021 (1-5)
ISSN 0268-1242
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
856 4# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000794659">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000794659</a>
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 479090

No items available.