Normal view
MARC view
Дефекты структуры в полупроводниках (Record no. 451745)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02576nam a2200409 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000652680 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210922101611.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 190419s1973 ru a f b 001 0 rus d |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000652680 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RuMoRGB |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | ELAR |
| Правила каталог. | rcr |
| Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
| 041 0# - Код языка издания | |
| Код языка текста | rus |
| 044 ## - Код страны публикации | |
| Код страны публикации | ru |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 537.311.322:548.4(082) |
| 084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
| Индекс другой классификации/Индекс ББК | В379.222я431 |
| Источник индекса | rubbk |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Дефекты структуры в полупроводниках |
| Продолж. заглавия | материалы Всесоюзного совещания по дефектам в полупроводниках [2-4 октября 1973 г.] |
| Ответственность | Ин-т физики полупроводников СО Акад. наук СССР ; [отв. ред. С. И. Стенин ; отв. за вып. Е. М. Труханов] |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Новосибирск |
| Издательство | [б. и.] |
| Дата издания | 1973 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 296, XXIX с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил., фото, табл. |
| Размеры | 21 см |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр. в конце ст. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Авт. указ.: с. 294-296 |
| 650 #7 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Полупроводники - Дефекты - Сборники |
| Источник рубрики | RKP |
| 9 (RLIN) | 493374 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальные пленки полупроводниковые, дефекты |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокации в полупроводниках |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты полупроводников ростовые точечные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые пленки, дефекты |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокационные структуры полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты в кристаллах полупроводниковых |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | поверхности полупроводниковых материалов, деформации |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые кристаллы нитевидные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | радиационные дефекты полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | физические свойства полупроводников |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Стенин, Сергей Иванович |
| Дата | 1940-1990 |
| Код отношения | edt |
| 9 (RLIN) | 493375 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Труханов, Евгений Михайлович |
| Код отношения | mon |
| 9 (RLIN) | 73662 |
| 711 2# - Наименование мероприятия (временной организации) | |
| Название мероприятия | Всесоюзное совещание по дефектам в полупроводниках |
| № части/секции | 2 |
| Дата мероприятия | 1973 |
| Место мероприятия | Новосибирск |
| 9 (RLIN) | 493376 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 451745 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 0.52 | 1-140983к | 13820000981837 | Выдается в читальный зал |