Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Радиационная физика узкозонных полупроводников (Record no. 440902)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03381nmm a2200577 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000633219
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20240528170341.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr |
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 180921s1998 kz fsb d rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 5628013315
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000633219
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 621.315.592:539.121.7
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 537.311.322:539.121.7
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 537.311.322:548.4:539.121.7
245 10 - Заглавие
Заглавие Радиационная физика узкозонных полупроводников
Физический носитель Электронный ресурс
Ответственность А. В. Войцеховский, В. О. Волошин, М. Б. Гольман, А. П. Коханенко
260 ## - Выходные данные
Место издания Алматы
Издательство Гылым
Дата издания 1998
300 ## - Физическое описание
Объем 1 онлайн-ресурс (165 с.)
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 158-165
506 ## - Ограничения на доступ к материалу
Ограничения доступа Доступ в сети ТГУ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводники узкозонные дефектные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные дефекты полупроводников
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова теллурид-кадмий-ртуть, кристаллы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова диффузия радиационно-стимулированная
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова примеси полупроводников, диффузия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова дефектные структуры полупроводников
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова дефектообразование в кристаллах радиационное
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные дефекты полупроводников, модели энергетические
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова облучение нейтронами быстрыми
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова облучение электронами быстрыми
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова облучение протонами быстрыми
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова облучение ионами быстрыми
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова облучение гамма-квантами быстрыми
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электрические свойства кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова оптические свойства кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фотоэлектрические свойства кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова рекомбинационые свойства кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова структурные свойства кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные дефекты полупроводников, термическая стабильность
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова приборы диагностики, радиационная стойкость
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводниковые соединения сложные, радиационные нарушения
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма монографии
9 (RLIN) 879346
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Волошин, Василий Остапович
9 (RLIN) 486702
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Гольман, Михаил Борисович
9 (RLIN) 486703
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Коханенко, Андрей Павлович
9 (RLIN) 65555
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Войцеховский, Александр Васильевич
9 (RLIN) 64789
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
856 7# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633219">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633219</a>
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 440902

No items available.