Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Spin Hall conductivity in three-dimensional topological insulator/normal insulator heterostructures (Record no. 421258)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02153nab a2200301 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000577937
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230319210844.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr |
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 170620|2015 ru s c eng dd
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1134/S0021364015230113
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000577937
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
100 1# - Автор
Автор Menshov, V. N.
9 (RLIN) 101643
245 10 - Заглавие
Заглавие Spin Hall conductivity in three-dimensional topological insulator/normal insulator heterostructures
Ответственность V. N. Menshov, V. V. Tugushev, E. V. Chulkov
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 36 назв.
520 3# - Аннотация
Аннотация In the framework of an effective functional approach based on the k · p method, we study the combined effect of an interface potential and a thickness of a three-dimensional (3D) topological insulator (TI) thin film on the spin Hall conductivity in layered heterostructures comprising TI and normal insulator (NI) materials. We derive an effective two-dimensional (2D) Hamiltonian of a 3D TI thin film sandwiched between two NI slabs and define the applicability limits of approximations used. The energy gap and mass dispersion in the 2D Hamiltonian, originated from the hybridization between TI/NI interfacial bound electron states at the opposite boundaries of a TI film, are demonstrated to change sign with the TI film thickness and the interface potential strength. Finally, we argue that the spin Hall conductivity can efficiently be tuned varying the interface potential characteristics and TI film thickness.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова трехмерные топологические изоляторы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова гетероструктуры
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма статьи в журналах
9 (RLIN) 879358
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Tugushev, V. V.
9 (RLIN) 167673
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Chulkov, Evgueni V.
9 (RLIN) 89119
773 0# - Источник информации
Название источника Journal of experimental and theoretical physics letters
Место и дата издания 2015
Прочая информация Vol. 102, № 11. P. 754-759
ISSN 0021-3640
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
856 7# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000577937">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000577937</a>
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 421258

No items available.