Normal view
MARC view
Indentation fracture toughness of single-crystal Bi2Te3 topological insulators (Record no. 419219)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02229nab a2200385 c 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000565887 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20230319210622.0 |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr | |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 170330|2016 cc s a eng dd |
| 024 7# - Прочие стандартные номера | |
| Стандартный номер | 10.1007/s12274-016-0995-z |
| Источник номера | doi |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000565887 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Indentation fracture toughness of single-crystal Bi2Te3 topological insulators |
| Ответственность | C. Lamuta, A. Cupolillo, A. Politano [et.al.] |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: 77 назв. |
| 520 3# - Аннотация | |
| Аннотация | Bismuth telluride (Bi2Te3) is one of the most important commercial thermoelectric materials. In recent years, the discovery of topologically protected surface states in Bi chalcogenides has paved the way for their application in nanoelectronics. Determination of the fracture toughness plays a crucial role for the potential application of topological insulators in flexible electronics and nanoelectromechanical devices. Using depth-sensing nanoindentation tests, we investigated for the first time the fracture toughness of bulk single crystals of Bi2Te3 topological insulators, grown using the Bridgman-Stockbarger method. Our results highlight one of the possible pitfalls of the technology based on topological insulators. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | теллурид висмута |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | термоэлектрические материалы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | топологические изоляторы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | вязкость разрушения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | наноиндентирование |
| 655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма | |
| Жанр/форма | статьи в журналах |
| 9 (RLIN) | 879358 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Lamuta, Caterina |
| 9 (RLIN) | 472789 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Politano, Antonio |
| 9 (RLIN) | 403943 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Aliev, Ziya S. |
| 9 (RLIN) | 157495 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Babanly, Mahammad B. |
| 9 (RLIN) | 157496 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Chulkov, Evgueni V. |
| 9 (RLIN) | 89119 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Pagnotta, Leonardo |
| 9 (RLIN) | 472790 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Cupolillo, Anna |
| 9 (RLIN) | 472791 |
| 773 0# - Источник информации | |
| Название источника | Nano research |
| Место и дата издания | 2016 |
| Прочая информация | Vol. 9, № 4. P. 1032-1042 |
| ISSN | 1998-0124 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| 856 7# - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000565887">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000565887</a> |
| 908 ## - Параметр входа данных | |
| Параметр входа данных | статья |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 419219 |
No items available.