Normal view
MARC view
Авто-, термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия (Record no. 404447)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02029nam a2200409 i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000547432 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210924034738.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 160921s1990 ru a f b 000 0 rus d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 5020141771 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | (RuMoRKP)ru90-70466 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RKP |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | PSBO |
Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
041 1# - Код языка издания | |
Код языка текста | rus |
Код языка оригинала | eng |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 538.971-034:537.533.2:535.33 |
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
Индекс другой классификации/Индекс ББК | 16.4.5 |
Источник индекса | rueskl |
100 1# - Автор | |
Автор | Модинос, Антонис |
9 (RLIN) | 456058 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Авто-, термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия |
Ответственность | А. Модинос ; пер. с англ. под ред. Г. Н. Фурсея ; с доп. Л. М. Баскина [и др.] |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | Наука |
Дата издания | 1990 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 319 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил., табл. |
Размеры | 22 см |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: с. 285-292, 317-319 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронная эмиссионная спектроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхности металлов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронная теория металлов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | автоэлектронная эмиссия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | термоэлектронная эмиссия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электроны эмиттированные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | туннельная микроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | кристаллические решетки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | зонная структура |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхности полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | вторично-электронная эмиссионная спектроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | автоэмиссионные исследования |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Фурсей, Георгий Николаевич |
Дата | 1933- |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 90722 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Баскин, Лев Мордухович |
9 (RLIN) | 426210 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Код страны | ru |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 404447 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 04/04/2021 | 5.00 | 1-750961 | 13820000930964 | 1 месяц |