Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (Record no. 366786)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03331nam a2200673 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000498992
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230319200421.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 150217s2014 ru a f b 001 0 rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785948363851
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000498992
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RuMoRGB
Код языка каталог. rus
Правила каталог. rcr
Организация, изменившая запись RU-ToGU
041 1# - Код языка издания
Код языка текста rus
-- eng
Код языка оригинала eng
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 620.22-022.532:620.179.153/.155
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 620.186.8
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 538.911:539.27
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК В372.144,0
Источник индекса rubbk
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК Ж304-1с341.2,0
Источник индекса rubbk
245 10 - Заглавие
Заглавие Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Ответственность [Роберт А. Шварцер, Дэйвид П. Филд, Брент Л. Эдамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]
260 ## - Выходные данные
Место издания Москва
Издательство Техносфера
Дата издания 2014
300 ## - Физическое описание
Объем 559 с., [56] л. ил., цв. ил.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил., цв. ил.
Размеры 25 см
490 1# - Серия
Заглавие серии Мир физики и техники
№ тома II-32
500 ## - Примечания
Примечание Авт. указаны на 16-й с. и в содерж.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр. в конце ст.
504 ## - Библиография
Библиография Предм. указ.: с. 533-545
650 #7 - Тематические рубрики
Основная рубрика электроны
Источник рубрики nlr_sh
9 (RLIN) 54635
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова структура материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электронная микроскопия.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова дифракция отраженных электронов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ДОЭ-анализ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова динамическое моделирование.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова микроструктуры трехмерные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова зерна поликристаллов.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ориентация кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова функции распределения ориентаций
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова энергетическая фильтрация электронов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова сферические картины дифракции
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова Кикучи карты дифракции
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ДОЭ-анализ фазовый
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова идентификация фаз
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова кристаллические решетки, симметрия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова трехмерная ориентационная микроскопия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова срезы материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ДОЭ-карты трехмерные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова цифровые микроструктуры
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова трехмерные реконструкции
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пластические деформации.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова трехмерное моделирование
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова межзеренные границы кристаллов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова картирование деформаций
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова деформационные структуры, анализ
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Шварц, Адам Дж.
Код отношения edt
9 (RLIN) 423554
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Шварцер, Роберт А.
9 (RLIN) 423555
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Филд, Дэйвид П.
9 (RLIN) 423556
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Адамс, Брент Л.
9 (RLIN) 423557
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие
Унифицированное заглавие Мир физики и техники
9 (RLIN) 73511
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 620.22
Авторский знак М545
Код страны ru
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 366786
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 04/04/2021 1430.00   620.22 М545 13820000889167 Выдается по месту хранения