Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy (Record no. 357375)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03778nam a22005295i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000485910
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922065955.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr nn 008mamaa
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 140715s2013 ne | s |||| 0|eng d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9789400763920
-- 978-94-007-6392-0
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1007/978-94-007-6392-0
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000485910
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. Springer
Служба, преобразующая запись Springer
Организация, изменившая запись RU-ToGU
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс TK7867-7867.5
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TJFC
Источник кода bicssc
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TJFD5
Источник кода bicssc
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TEC008010
Источник кода bisacsh
082 04 - Индекс Дьюи
Индекс Дьюи 621.3815
Номер издания 23
100 1# - Автор
Автор Im, Seongil.
Роль лиц author.
9 (RLIN) 415569
245 10 - Заглавие
Заглавие Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Физический носитель [electronic resource] :
Продолж. заглавия Probing the traps in field-effect transistors /
Ответственность by Seongil Im, Youn-Gyoung Chang, Jae Hoon Kim.
260 ## - Выходные данные
Место издания Dordrecht :
Издательство Springer Netherlands :
-- Imprint: Springer,
Дата издания 2013.
300 ## - Физическое описание
Объем XI, 101 p. 61 illus.
Иллюстрации/тип воспроизводства online resource.
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого text
Content type code txt
Source rdacontent
337 ## - Средство доступа
Средство доступа computer
Media type code c
Source rdamedia
338 ## - Тип носителя
Тип носителя online resource
Carrier type code cr
Source rdacarrier
490 1# - Серия
Заглавие серии SpringerBriefs in Physics,
ISSN серии 2191-5423
505 0# - Примечание о содержании
Содержание Chapter 1 Device Stability and Photo-Excited Charge-Collection Spectroscopy -- Chapter 2 Instrumentations for PECCS -- Chapter 3 PECCS measurements in Organic FETs -- Chapter 4 PECCS measurements in Oxide FETs -- Chapter 5 PECCS measurements in Nanostructure FETs -- Chapter 6 Summary and limiting factors of PECCS.
520 ## - Аннотация
Аннотация Solid state field-effect devices such as organic and inorganic-channel thin-film transistors (TFTs) have been expected to promote advances in display and sensor electronics. The operational stabilities of such TFTs are thus important, strongly depending on the nature and density of charge traps present at the channel/dielectric interface or in the thin-film channel itself. This book contains how to characterize these traps, starting from the device physics of field-effect transistor (FET). Unlike conventional analysis techniques which are away from well-resolving spectral results, newly-introduced photo-excited charge-collection spectroscopy (PECCS) utilizes the photo-induced threshold voltage response from any type of working transistor devices with organic-, inorganic-, and even nano-channels, directly probing on the traps. So, our technique PECCS has been discussed through more than ten refereed-journal papers in the fields of device electronics, applied physics, applied chemistry, nano-devices and materials science, finally finding a need to be summarized with several chapters in a short book. Device physics and instrumentations of PECCS are well addressed respectively, in the first and second chapters, for the next chapters addressing real applications to organic, oxide, and nanostructured FETs. This book would provide benefits since its contents are not only educational and basic principle-supportive but also applicable and in-house operational.
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика physics.
9 (RLIN) 566227
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Systems engineering.
9 (RLIN) 303074
650 14 - Тематические рубрики
Основная рубрика Physics.
9 (RLIN) 566228
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Electronic Circuits and Devices.
9 (RLIN) 410654
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Solid State Physics.
9 (RLIN) 369044
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Circuits and Systems.
9 (RLIN) 303075
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices.
9 (RLIN) 410418
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Measurement Science and Instrumentation.
9 (RLIN) 143946
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Chang, Youn-Gyoung.
Роль лиц author.
9 (RLIN) 415570
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Kim, Jae Hoon.
Роль лиц author.
9 (RLIN) 415571
710 2# - Другие организации
Организация/юрисдикция SpringerLink (Online service)
9 (RLIN) 143950
773 0# - Источник информации
Название источника Springer eBooks
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие
Унифицированное заглавие SpringerBriefs in Physics,
9 (RLIN) 410489
856 40 - Электронный адрес документа
URL <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0</a>
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ ZDB-2-PHA
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 357375

No items available.