Normal view
MARC view
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy (Record no. 357375)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 03778nam a22005295i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000485910 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210922065955.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 140715s2013 ne | s |||| 0|eng d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9789400763920 |
-- | 978-94-007-6392-0 |
024 7# - Прочие стандартные номера | |
Стандартный номер | 10.1007/978-94-007-6392-0 |
Источник номера | doi |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000485910 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | Springer |
Служба, преобразующая запись | Springer |
Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | TK7867-7867.5 |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TJFC |
Источник кода | bicssc |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TJFD5 |
Источник кода | bicssc |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TEC008010 |
Источник кода | bisacsh |
082 04 - Индекс Дьюи | |
Индекс Дьюи | 621.3815 |
Номер издания | 23 |
100 1# - Автор | |
Автор | Im, Seongil. |
Роль лиц | author. |
9 (RLIN) | 415569 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy |
Физический носитель | [electronic resource] : |
Продолж. заглавия | Probing the traps in field-effect transistors / |
Ответственность | by Seongil Im, Youn-Gyoung Chang, Jae Hoon Kim. |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Dordrecht : |
Издательство | Springer Netherlands : |
-- | Imprint: Springer, |
Дата издания | 2013. |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | XI, 101 p. 61 illus. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | online resource. |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | text |
Content type code | txt |
Source | rdacontent |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | computer |
Media type code | c |
Source | rdamedia |
338 ## - Тип носителя | |
Тип носителя | online resource |
Carrier type code | cr |
Source | rdacarrier |
490 1# - Серия | |
Заглавие серии | SpringerBriefs in Physics, |
ISSN серии | 2191-5423 |
505 0# - Примечание о содержании | |
Содержание | Chapter 1 Device Stability and Photo-Excited Charge-Collection Spectroscopy -- Chapter 2 Instrumentations for PECCS -- Chapter 3 PECCS measurements in Organic FETs -- Chapter 4 PECCS measurements in Oxide FETs -- Chapter 5 PECCS measurements in Nanostructure FETs -- Chapter 6 Summary and limiting factors of PECCS. |
520 ## - Аннотация | |
Аннотация | Solid state field-effect devices such as organic and inorganic-channel thin-film transistors (TFTs) have been expected to promote advances in display and sensor electronics. The operational stabilities of such TFTs are thus important, strongly depending on the nature and density of charge traps present at the channel/dielectric interface or in the thin-film channel itself. This book contains how to characterize these traps, starting from the device physics of field-effect transistor (FET). Unlike conventional analysis techniques which are away from well-resolving spectral results, newly-introduced photo-excited charge-collection spectroscopy (PECCS) utilizes the photo-induced threshold voltage response from any type of working transistor devices with organic-, inorganic-, and even nano-channels, directly probing on the traps. So, our technique PECCS has been discussed through more than ten refereed-journal papers in the fields of device electronics, applied physics, applied chemistry, nano-devices and materials science, finally finding a need to be summarized with several chapters in a short book. Device physics and instrumentations of PECCS are well addressed respectively, in the first and second chapters, for the next chapters addressing real applications to organic, oxide, and nanostructured FETs. This book would provide benefits since its contents are not only educational and basic principle-supportive but also applicable and in-house operational. |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | physics. |
9 (RLIN) | 566227 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Systems engineering. |
9 (RLIN) | 303074 |
650 14 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Physics. |
9 (RLIN) | 566228 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Electronic Circuits and Devices. |
9 (RLIN) | 410654 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Solid State Physics. |
9 (RLIN) | 369044 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Circuits and Systems. |
9 (RLIN) | 303075 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. |
9 (RLIN) | 410418 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Measurement Science and Instrumentation. |
9 (RLIN) | 143946 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Chang, Youn-Gyoung. |
Роль лиц | author. |
9 (RLIN) | 415570 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Kim, Jae Hoon. |
Роль лиц | author. |
9 (RLIN) | 415571 |
710 2# - Другие организации | |
Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
9 (RLIN) | 143950 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Springer eBooks |
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | SpringerBriefs in Physics, |
9 (RLIN) | 410489 |
856 40 - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0</a> |
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | |
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | ZDB-2-PHA |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 357375 |
No items available.