Normal view
MARC view
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices (Record no. 356326)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 05343nam a22005655i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000483608 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210922065639.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 140715s2013 xxu| s |||| 0|eng d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9781461443377 |
-- | 978-1-4614-4337-7 |
024 7# - Прочие стандартные номера | |
Стандартный номер | 10.1007/978-1-4614-4337-7 |
Источник номера | doi |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000483608 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | Springer |
Служба, преобразующая запись | Springer |
Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | QC350-467 |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | TA1501-1820 |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | QC392-449.5 |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | TA1750-1750.22 |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TTB |
Источник кода | bicssc |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | PHJ |
Источник кода | bicssc |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TEC030000 |
Источник кода | bisacsh |
082 04 - Индекс Дьюи | |
Индекс Дьюи | 621.36 |
Номер издания | 23 |
100 1# - Автор | |
Автор | Ueda, Osamu. |
Роль лиц | editor. |
9 (RLIN) | 413761 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices |
Физический носитель | electronic resource |
Ответственность | edited by Osamu Ueda, Stephen J. Pearton. |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | New York, NY : |
Издательство | Springer New York : |
-- | Imprint: Springer, |
Дата издания | 2013. |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | XV, 616 p. 410 illus., 131 illus. in color. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | online resource. |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | text |
Content type code | txt |
Source | rdacontent |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | computer |
Media type code | c |
Source | rdamedia |
338 ## - Тип носителя | |
Тип носителя | online resource |
Carrier type code | cr |
Source | rdacarrier |
505 0# - Примечание о содержании | |
Содержание | Preface -- Part 1. Materials Issues and Reliability of Optical Devices -- 1. Reliability Testing of Semiconductor Optical Devices -- 2. Failure Analysis of Semiconductor Optical Devices -- 3. Failure Analysis using Optical Evaluation Technique (OBIC) of LDs and APDs for Fiber Optical Communication -- 4. Reliability and Degradation of III-V Optical Devices Focusing on Gradual Degradation -- 5. Catastrophic Optical-damage in High Power, Broad-Area Laser-diodes -- 6. Reliability and Degradation of Vertical Cavity Surface Emitting Lasers -- 7. Structural Defects in GaN-based Materials and Their Relation to GaN-based Laser Diodes -- 8. InGaN Laser Diode Degradation -- 9. Radiation-enhanced Dislocation Glide - The Current Status of Research -- 10. Mechanism of Defect Reactions in Semiconductors -- Part 2. Materials Issues and Reliability of Electron Devices -- 11. Reliability Studies in the Real World -- 12. Strain Effects in AlGaN/GaN HEMTs -- 13. Reliability Issues in AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors -- 14. GaAs Device Reliability: High Electron Mobility Transistors and Heterojunction Bipolar Transistors -- 15. Novel Dielectrics for GaN Device Passivation And Improved Reliability -- 16. Reliability Simulation -- 17. The Analysis of Wide Bandgap Semiconductors Using Raman Spectroscopy -- 18. Reliability Study of InP-Based HBTs Operating at High Current Density -- Index. |
520 ## - Аннотация | |
Аннотация | Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices provides comprehensive coverage of reliability procedures and approaches for electron and photonic devices. These include lasers and high speed electronics used in cell phones, satellites, data transmission systems and displays. Lifetime predictions for compound semiconductor devices are notoriously inaccurate due to the absence of standard protocols. Manufacturers have relied on extrapolation back to room temperature of accelerated testing at elevated temperature. This technique fails for scaled, high current density devices. Device failure is driven by electric field or current mechanisms or low activation energy processes that are masked by other mechanisms at high temperature. The Handbook addresses reliability engineering for III-V devices, including materials and electrical characterization, reliability testing, and electronic characterization. These are used to develop new simulation technologies for device operation and reliability, which allow accurate prediction of reliability as well as the design specifically for improved reliability. The Handbook emphasizes physical mechanisms rather than an electrical definition of reliability. Accelerated aging is useful only if the failure mechanism is known. The Handbook also focuses on voltage and current acceleration stress mechanisms. Provides the first handbook to cover all aspects of compound semiconductor device reliability Systematically describes research results on reliability and materials issues of both optical and electron devices developed since 2000 Covers characterization techniques needed to understand failure mechanisms in compound semiconductor devices Includes experimental approaches in reliability studies Presents case studies of laser degradation and HEMT degradation |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | physics. |
9 (RLIN) | 566227 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | electronics. |
9 (RLIN) | 303071 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Optical materials. |
9 (RLIN) | 303073 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Surfaces (Physics). |
9 (RLIN) | 143943 |
650 14 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Physics. |
9 (RLIN) | 566228 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. |
9 (RLIN) | 410418 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Optical and Electronic Materials. |
9 (RLIN) | 303078 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Electronics and Microelectronics, Instrumentation. |
9 (RLIN) | 303076 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Electronic Circuits and Devices. |
9 (RLIN) | 410654 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Characterization and Evaluation of Materials. |
9 (RLIN) | 143945 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Laser Technology, Photonics. |
9 (RLIN) | 410422 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Pearton, Stephen J. |
Роль лиц | editor. |
9 (RLIN) | 318412 |
710 2# - Другие организации | |
Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
9 (RLIN) | 143950 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Springer eBooks |
856 40 - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7</a> |
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | |
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | ZDB-2-PHA |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 356326 |
No items available.