Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices (Record no. 356326)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 05343nam a22005655i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000483608
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922065639.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr nn 008mamaa
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 140715s2013 xxu| s |||| 0|eng d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9781461443377
-- 978-1-4614-4337-7
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1007/978-1-4614-4337-7
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000483608
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. Springer
Служба, преобразующая запись Springer
Организация, изменившая запись RU-ToGU
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс QC350-467
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс TA1501-1820
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс QC392-449.5
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс TA1750-1750.22
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TTB
Источник кода bicssc
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории PHJ
Источник кода bicssc
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TEC030000
Источник кода bisacsh
082 04 - Индекс Дьюи
Индекс Дьюи 621.36
Номер издания 23
100 1# - Автор
Автор Ueda, Osamu.
Роль лиц editor.
9 (RLIN) 413761
245 10 - Заглавие
Заглавие Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Физический носитель electronic resource
Ответственность edited by Osamu Ueda, Stephen J. Pearton.
260 ## - Выходные данные
Место издания New York, NY :
Издательство Springer New York :
-- Imprint: Springer,
Дата издания 2013.
300 ## - Физическое описание
Объем XV, 616 p. 410 illus., 131 illus. in color.
Иллюстрации/тип воспроизводства online resource.
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого text
Content type code txt
Source rdacontent
337 ## - Средство доступа
Средство доступа computer
Media type code c
Source rdamedia
338 ## - Тип носителя
Тип носителя online resource
Carrier type code cr
Source rdacarrier
505 0# - Примечание о содержании
Содержание Preface -- Part 1. Materials Issues and Reliability of Optical Devices -- 1. Reliability Testing of Semiconductor Optical Devices -- 2. Failure Analysis of Semiconductor Optical Devices -- 3. Failure Analysis using Optical Evaluation Technique (OBIC) of LDs and APDs for Fiber Optical Communication -- 4. Reliability and Degradation of III-V Optical Devices Focusing on Gradual Degradation -- 5. Catastrophic Optical-damage in High Power, Broad-Area Laser-diodes -- 6. Reliability and Degradation of Vertical Cavity Surface Emitting Lasers -- 7. Structural Defects in GaN-based Materials and Their Relation to GaN-based Laser Diodes -- 8. InGaN Laser Diode Degradation -- 9. Radiation-enhanced Dislocation Glide - The Current Status of Research -- 10. Mechanism of Defect Reactions in Semiconductors -- Part 2. Materials Issues and Reliability of Electron Devices -- 11. Reliability Studies in the Real World -- 12. Strain Effects in AlGaN/GaN HEMTs -- 13. Reliability Issues in AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors -- 14. GaAs Device Reliability: High Electron Mobility Transistors and Heterojunction Bipolar Transistors -- 15. Novel Dielectrics for GaN Device Passivation And Improved Reliability -- 16. Reliability Simulation -- 17. The Analysis of Wide Bandgap Semiconductors Using Raman Spectroscopy -- 18. Reliability Study of InP-Based HBTs Operating at High Current Density -- Index.
520 ## - Аннотация
Аннотация Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices provides comprehensive coverage of reliability procedures and approaches for electron and photonic devices. These include lasers and high speed electronics used in cell phones, satellites, data transmission systems and displays. Lifetime predictions for compound semiconductor devices are notoriously inaccurate due to the absence of standard protocols. Manufacturers have relied on extrapolation back to room temperature of accelerated testing at elevated temperature. This technique fails for scaled, high current density devices. Device failure is driven by electric field or current mechanisms or low activation energy processes that are masked by other mechanisms at high temperature. The Handbook addresses reliability engineering for III-V devices, including materials and electrical characterization, reliability testing, and electronic characterization. These are used to develop new simulation technologies for device operation and reliability, which allow accurate prediction of reliability as well as the design specifically for improved reliability. The Handbook emphasizes physical mechanisms rather than an electrical definition of reliability.  Accelerated aging is useful only if the failure mechanism is known. The Handbook also focuses on voltage and current acceleration stress mechanisms. Provides the first handbook to cover all aspects of compound semiconductor device reliability Systematically describes research results on reliability and materials issues of both optical and electron devices developed since 2000 Covers characterization techniques needed to understand failure mechanisms in compound semiconductor devices Includes experimental approaches in reliability studies Presents case studies of laser degradation and HEMT degradation
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика physics.
9 (RLIN) 566227
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика electronics.
9 (RLIN) 303071
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Optical materials.
9 (RLIN) 303073
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Surfaces (Physics).
9 (RLIN) 143943
650 14 - Тематические рубрики
Основная рубрика Physics.
9 (RLIN) 566228
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices.
9 (RLIN) 410418
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Optical and Electronic Materials.
9 (RLIN) 303078
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
9 (RLIN) 303076
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Electronic Circuits and Devices.
9 (RLIN) 410654
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Characterization and Evaluation of Materials.
9 (RLIN) 143945
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Laser Technology, Photonics.
9 (RLIN) 410422
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Pearton, Stephen J.
Роль лиц editor.
9 (RLIN) 318412
710 2# - Другие организации
Организация/юрисдикция SpringerLink (Online service)
9 (RLIN) 143950
773 0# - Источник информации
Название источника Springer eBooks
856 40 - Электронный адрес документа
URL <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7</a>
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ ZDB-2-PHA
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 356326

No items available.