Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Введение в нанометрологию (Record no. 307742)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02757cam a2200457 i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000417151
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922052434.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 111130s2010 ru a b 000 0 rus|d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785998400278
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер 004720611
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RuMoRKP
Код языка каталог. rus
Правила каталог. rcr
Организация, изменившая запись RuMoRGB
-- RU-ToGU
041 0# - Код языка издания
Код языка текста rus
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 620.22-022.53:006.91(075.8)
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 620.22-022.532:621.385.833(075.8)
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК Ж102.341я73-1
Источник индекса rubbk
100 1# - Автор
Автор Сергеев, Алексей Георгиевич
Дата 1940-
9 (RLIN) 70716
245 10 - Заглавие
Заглавие Введение в нанометрологию
Продолж. заглавия учебное пособие : [по специальностям "Метрология и метрологическое обеспечение" (100501) и "Управление качеством" (220501)]
Ответственность А. Г. Сергеев ; Владимирский гос. ун-т
260 ## - Выходные данные
Место издания Владимир
Издательство Изд-во Владимирского гос. ун-та
Дата издания 2010
300 ## - Физическое описание
Объем 295, [1] с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил., табл.
Размеры 20 см
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 293-296
650 #7 - Тематические рубрики
Основная рубрика Метрология
Типовое деление Учебные издания для высших учебных заведений
Источник рубрики nlr_sh
9 (RLIN) 378713
650 #7 - Тематические рубрики
Основная рубрика Наноструктуры
Основная подрубрика Исследование
-- Сканирующая микроскопия зондовая
Типовое деление Учебные издания для высших учебных заведений
Источник рубрики nlr_sh
9 (RLIN) 378714
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова сканирующая зондовая микроскопия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова концепция нанометрологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова стандартизация наноиндустрии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова техническое обеспечение нанометрологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноизмерения
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова погрешности измерений
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова сертификация наноиндустрии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова организационное обеспечение нанометрологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова микроскопы зондовые атомно-силовые измерительные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электронные микроскопы растровые измерительные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова нанометровый диапазон
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова калибровка в нанотехнологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова поверка в нанотехнологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова неопределенность наноизмерений
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 620.22
Авторский знак С322
Код страны ru
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных учебник
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 307742
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра Номер копии Всего продлений Дата окончания срока выдачи Дата последней выдачи/возврата
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 04/04/2021 519.20   1-998762к 13820000792155 Выдается в читальный зал        
      Научная библиотека ТГУ Абонемент. Депозитарий 04/04/2021 519.20   62 С322 13820000792156 6 месяцев 1      
      Научная библиотека ТГУ Абонемент 04/04/2021 519.20 2 62 С322 13820000792157 6 месяцев 2 9 13/08/2024 20/11/2023