Normal view
MARC view
Точечные дефекты в полупроводниках (Record no. 307377)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02338nam a2200457 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000417865 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20230319190058.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 111212s1985 ru a f b 001 0 rus d |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000417865 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 537.311.322:548.4 |
| 084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
| Индекс другой классификации/Индекс ББК | 539.219.1:538.91 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Бургуэн, Жак. |
| 9 (RLIN) | 180879 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Точечные дефекты в полупроводниках |
| Продолж. заглавия | экспериментальные аспекты |
| Ответственность | Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича |
| 246 11 - Заглавие тома/части | |
| Заглавие тома/части | Point Defects in Semiconductors |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Мир |
| Дата издания | 1985 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 304 с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: с. 9, 289-297 |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Предм. указ.: с. 298-300 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводники |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты точечные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Яна-Теллера эффект |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронный парамагнитный резонанс |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптические свойства полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | генерация носителей тока |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | регенерация носителей тока |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электрические свойства полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | фотовозбуждение полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | взаимодействие излучения с твердым телом |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | отжиг дефектов полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кристаллические решетки полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | туннельные состояния двухуровневые |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | проводимость полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | взаимодействие дефектов полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | примесные центры полупроводников |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Ланно, Мишель. |
| 9 (RLIN) | 180878 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Гуревич, В. Л. |
| Код отношения | edt |
| 9 (RLIN) | 172190 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 537 |
| Авторский знак | Б912 |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 307377 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 04/04/2021 | 2.70 | 1-598264к | 13820000783283 | Выдается в читальный зал | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 04/04/2021 | 2.70 | 1-589250 | 13820000783284 | 1 месяц |