Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Исследование фотоэлектрических свойств эпитаксиальных пленок КРТ, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (Record no. 262106)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01398naa a2200277 i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000380324
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230809100709.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 100203s2002 ru f 100 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000380324
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 539.2
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 538.97
100 1# - Автор
Автор Ходкевич, Д. В.
9 (RLIN) 347542
245 10 - Заглавие
Заглавие Исследование фотоэлектрических свойств эпитаксиальных пленок КРТ, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Ответственность Д. В. Ходкевич, М. Ф. Филатов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика полупроводников
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика диэлектриков
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова молекулярно-лучевая эпитаксия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова эпитаксиальные пленки
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фотоэлектрические свойства
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Филатов, Михаил Федорович
9 (RLIN) 497538
773 0# - Источник информации
Название источника Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г.
Место и дата издания Томск, 2002
Прочая информация С. 99
Контрольный № источника 0204-47860
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя Ru-ToGU
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 262106

No items available.