Normal view
MARC view
Scanning Probe Microscopy (Record no. 228708)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01552nmm a22003855u 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000352708 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210922022123.0 |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 090506s2007 xx j eng d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 9780387286686 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000352708 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | Springer |
| Служба, преобразующая запись | Springer |
| Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Kalinin, Sergei. |
| 9 (RLIN) | 306252 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Scanning Probe Microscopy |
| Физический носитель | Электронный ресурс |
| Продолж. заглавия | Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale / |
| Ответственность | edited by Sergei Kalinin, Alexei Gruverman. |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | New York, NY : |
| Издательство | Springer Science+Business Media, LLC, |
| Дата издания | 2007. |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Mechanical engineering |
| 9 (RLIN) | 566294 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Microscopy |
| 9 (RLIN) | 304188 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Nanotechnology |
| 9 (RLIN) | 566290 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Particles (Nuclear physics) |
| 9 (RLIN) | 303203 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Surfaces (Physics) |
| 9 (RLIN) | 143943 |
| 650 14 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | chemistry |
| 9 (RLIN) | 161768 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Biological Microscopy |
| 9 (RLIN) | 304190 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Characterization and Evaluation of Materials |
| 9 (RLIN) | 143945 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Mechanical Engineering |
| 9 (RLIN) | 566297 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Nanotechnology |
| 9 (RLIN) | 566290 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Solid State Physics and Spectroscopy |
| 9 (RLIN) | 303207 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Surfaces and Interfaces, Thin Films |
| 9 (RLIN) | 143947 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Gruverman, Alexei. |
| 9 (RLIN) | 306254 |
| 710 2# - Другие организации | |
| Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
| 9 (RLIN) | 143950 |
| 773 0# - Источник информации | |
| Название источника | Springer e-books |
| 856 40 - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6</a> |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 228708 |
No items available.