Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Фотоэлектрические и рекомбинационные свойства эпитаксиальных структур на основе HgCdTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (Record no. 19379)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02186nam a2200409 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000038789
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210910112959.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 990204s1998 ru a f b 00| | rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер 0041-07560
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
Правила каталог. PSBO
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 539.23(043.3)
100 1# - Автор
Автор Денисов, Юрий Алексеевич.
9 (RLIN) 124217
245 10 - Заглавие
Заглавие Фотоэлектрические и рекомбинационные свойства эпитаксиальных структур на основе HgCdTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Продолж. заглавия Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. 01.04.10
Ответственность Науч. рук. : Войцеховский А. В. , Коханенко, А. П. ; Томский гос. ун-т
260 ## - Выходные данные
Место издания Томск
Дата издания 1998
300 ## - Физическое описание
Объем 208 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства рис.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 194-207
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова эпитаксиальные методы.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова эпитаксиальные структуры.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова методы исследования.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова молекулярно-лучевая эпитаксия.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фотоприемники.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова варизонные структуры.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводниковые материалы.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова диэлектрики.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова эпитаксиальные пленки.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова спектры.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фотоэлектрические свойства.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова рекомбинационные свойства.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова возбуждения.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова проводимость.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова источники излучения.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фоторезисторы.
710 2# - Другие организации
Организация/юрисдикция Томский государственный университет.
9 (RLIN) 53646
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 1-837379к
Авторский знак 539.2
Код страны ru
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 19379
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Номер копии Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 02/04/2021 50.00   1-837379к 13820000038336 1 Выдается в читальный зал